Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
Премьер-министр Вьетнама Фам Минь Тинь в НИТУ МИСИС
Всероссийский проект «Школа наставничества»
Участники праздника Навруз в НИТУ МИСИС стоят на сцене
Награды XXIX Московского международного салона изобретений и инновационных технологий «Архимед-2026»